PAT 零部件平均測試
隨著新能源和無人駕駛汽車快速發展，使得車規級芯片發揮著越來越重要的作用。相對于消費類電子芯片，車規芯片的質量要求更加苛刻。
AEC-Q001規范中提出了參數零件平均測試（Parametric Part Average Testing, PPAT）方法。PAT 是用來檢測外緣（Outliers）半導體組件異常特性的統計方法，用以將異常組件從所有產品中剔除。
上揚軟件PAT（Part Average Testing）零部件平均測試，不僅包括常見的靜態SPAT（Static PAT）、動態DPAT（Dynamic PAT，還包括先進的區域聚集性PAT（Geographic PAT）剔除功能，使得PAT應用更加多樣、科學。
區域聚集性PAT是為所有在晶圓上的裸晶加入鄰近性權重，因此一些被不良裸晶包圍或鄰近的良好裸晶，可能會被移除。其核心思想是通過良品坐標周圍的不良品數量，或者通過不良品...
區域聚集性PAT是為所有在晶圓上的裸晶加入鄰近性權重，因此一些被不良裸晶包圍或鄰近的良好裸晶，可能會被移除。其核心思想是通過良品坐標周圍的不良品數量，或者通過不良品的聚集性找出有風險的芯片。分別對應正向、反向兩種搜索剔除算法。
動態PAT是根據當前Wafer測試參數的測試值計算當前WaferPAT參數的統計值（如中位數、均值、Sigma），再根據上下限的Sigma設置倍數得出上下PAT管控線，最后根據每個die的實測...
動態PAT是根據當前Wafer測試參數的測試值計算當前Wafer PAT參數的統計值（如中位數、均值、Sigma），再根據上下限的Sigma設置倍數得出上下PAT管控線，最后根據每個die的實測值與管控線得出die的Pass/Fail。
靜態PAT根據測試歷史數據計算產品PAT參數的統計值（如中位數、均值、Sigma），再根據上下限的Sigma設置倍數計算出上下PAT管控線，最后根據每個die的實測值與管控線得出die的Pass/Fail。
靜態PAT根據測試歷史數據計算產品PAT參數的統計值（如中位數、均值、Sigma），再根據上下限的Sigma設置倍數計算出上下PAT管控線，最后根據每個die的實測值與管控線得出die的Pass/Fail。
FA PAT支持多種測試文件格式，采用多線程技術，自動監聽測試文件，輸出PAT結果文件，也可直接將結果數據存儲在數據庫或推送給其它系統。
FA PAT與機臺軟件運行在同一局域網內，可直接訪問文件服務器，自動對機臺軟件產生的測試文件進行PAT計算，從而產生結果文件，存儲在文件服務器上。
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上海市浦東新區世紀大道1196號世紀匯二座1208室
